ਵਨ-ਸਟਾਪ ਇਲੈਕਟ੍ਰਾਨਿਕ ਨਿਰਮਾਣ ਸੇਵਾਵਾਂ, ਪੀਸੀਬੀ ਅਤੇ ਪੀਸੀਬੀਏ ਤੋਂ ਤੁਹਾਡੇ ਇਲੈਕਟ੍ਰਾਨਿਕ ਉਤਪਾਦਾਂ ਨੂੰ ਆਸਾਨੀ ਨਾਲ ਪ੍ਰਾਪਤ ਕਰਨ ਵਿੱਚ ਤੁਹਾਡੀ ਮਦਦ ਕਰਦਾ ਹੈ

AS6081 ਟੈਸਟ ਸਟੈਂਡਰਡ

ਟੈਸਟਿੰਗ ਅਤੇ ਨਿਰੀਖਣ

ਨਿਊਨਤਮ ਨਮੂਨਾ ਆਕਾਰ

ਪੱਧਰ

 

 

ਬੈਚ ਦੀ ਮਾਤਰਾ 200 ਟੁਕੜਿਆਂ ਤੋਂ ਘੱਟ ਨਹੀਂ ਹੈ

ਬੈਚ ਦੀ ਮਾਤਰਾ: 1-199 ਟੁਕੜੇ (ਨੋਟ 1 ਦੇਖੋ)

 

ਜ਼ਰੂਰੀ ਟੈਸਟ

 

 

ਇੱਕ ਪੱਧਰ

ਕੰਟਰੈਕਟ ਟੈਕਸਟ ਅਤੇ ਇਨਕੈਪਸੂਲੇਸ਼ਨ

 

 

A1

ਕੰਟਰੈਕਟ ਟੈਕਸਟ ਅਤੇ ਪੈਕੇਜਿੰਗ ਨਿਰੀਖਣ (4.2.6.4.1) (ਗੈਰ-ਵਿਨਾਸ਼ਕਾਰੀ)

ਸਾਰੇ

ਸਾਰੇ

 

ਦਿੱਖ ਦਾ ਨਿਰੀਖਣ

 

 

A2

aਕੁੱਲ ਮਿਲਾ ਕੇ (4.2.6.4.2.1) (ਗੈਰ-ਵਿਨਾਸ਼ਕਾਰੀ)

ਸਾਰੇ

ਸਾਰੇ

 

ਬੀ.ਵੇਰਵੇ (4.2.6.4.2.2) (ਗੈਰ-ਵਿਨਾਸ਼ਕਾਰੀ)

122 ਟੁਕੜੇ

122 ਟੁਕੜੇ ਜਾਂ ਸਾਰੇ (122 ਟੁਕੜਿਆਂ ਤੋਂ ਘੱਟ ਬੈਚ ਦੀ ਮਾਤਰਾ)

 

ਦੁਬਾਰਾ ਟਾਈਪਿੰਗ ਅਤੇ ਨਵੀਨੀਕਰਨ (ਨੁਕਸਾਨ ਵਾਲਾ)

ਨੋਟ 2 ਦੇਖੋ

ਨੋਟ 2 ਦੇਖੋ

A3

ਟਾਈਪਿੰਗ ਲਈ ਘੋਲਨ ਵਾਲਾ ਟੈਸਟ (4.2.6.4.3A) (ਨੁਕਸਾਨ ਵਾਲਾ)

3 ਟੁਕੜੇ

3 ਟੁਕੜੇ

 

ਨਵੀਨੀਕਰਨ ਲਈ ਘੋਲਨ ਵਾਲਾ ਟੈਸਟ (4.2.6.4.3B) (ਨੁਕਸਾਨ ਵਾਲਾ)

3 ਟੁਕੜੇ

3 ਟੁਕੜੇ

 

ਐਕਸ-ਰੇ ਖੋਜ

 

 

A4

ਐਕਸ-ਰੇ ਖੋਜ (4.2.6.4.4) (ਗੈਰ-ਵਿਨਾਸ਼ਕਾਰੀ)

45 ਟੁਕੜੇ

45 ਟੁਕੜੇ ਜਾਂ ਸਾਰੇ (45 ਟੁਕੜਿਆਂ ਤੋਂ ਘੱਟ ਬੈਚ ਦੀ ਮਾਤਰਾ)

 

ਲੀਡ ਖੋਜ (XRF ਜਾਂ EDS/EDX)

ਨੋਟ 3 ਵੇਖੋ

ਨੋਟ 3 ਵੇਖੋ

A5

XRF (ਨੁਕਸਾਨ ਰਹਿਤ) ਜਾਂ EDS/EDX (ਨੁਕਸਾਨ ਵਾਲਾ) (4.2.6.4.5) (ਅਨੈਕਸ C.1)

3 ਟੁਕੜੇ

3 ਟੁਕੜੇ

 

ਓਪਨ ਕਵਰ ਅੰਦਰੂਨੀ ਵਿਸ਼ਲੇਸ਼ਣ (ਨੁਕਸਾਨ ਵਾਲਾ)

ਨੋਟ 6 ਵੇਖੋ

ਨੋਟ 6 ਵੇਖੋ

A6

ਖੁੱਲ੍ਹਾ ਕਵਰ (4.2.6.4.6) (ਨੁਕਸਾਨ ਵਾਲਾ)

3 ਟੁਕੜੇ

3 ਟੁਕੜੇ

 

ਵਾਧੂ ਟੈਸਟਿੰਗ (ਕੰਪਨੀ ਅਤੇ ਗਾਹਕ ਦੋਵਾਂ ਦੁਆਰਾ ਸਹਿਮਤ)

 

 

 

ਦੁਬਾਰਾ ਟਾਈਪਿੰਗ ਅਤੇ ਨਵੀਨੀਕਰਨ (ਨੁਕਸਾਨ ਵਾਲਾ)

ਨੋਟ 2 ਦੇਖੋ

ਨੋਟ 2 ਦੇਖੋ

A3 ਵਿਕਲਪ

ਸਕੈਨਿੰਗ ਇਲੈਕਟ੍ਰੋਨ ਮਾਈਕ੍ਰੋਸਕੋਪੀ (4.2.6.4.3C) (ਨੁਕਸਾਨ ਵਾਲਾ)

3 ਟੁਕੜੇ

3 ਟੁਕੜੇ

 

ਸਤਹ ਮਾਤਰਾਤਮਕ ਵਿਸ਼ਲੇਸ਼ਣ (4.2.6.4.3D) (ਗੈਰ-ਵਿਨਾਸ਼ਕਾਰੀ)

5 ਟੁਕੜੇ

5 ਟੁਕੜੇ

 

ਗਰਮੀ ਦਾ ਟੈਸਟ

 

 

ਬੀ ਪੱਧਰ

ਥਰਮਲ ਚੱਕਰ ਟੈਸਟ (ਅਨੈਕਸ C.2)

ਸਾਰੇ

ਸਾਰੇ

 

ਬਿਜਲੀ ਦੀਆਂ ਵਿਸ਼ੇਸ਼ਤਾਵਾਂ ਦਾ ਟੈਸਟ

 

 

ਸੀ ਪੱਧਰ

ਇਲੈਕਟ੍ਰੀਕਲ ਟੈਸਟਿੰਗ (ਅਨੈਕਸ C.3)

116 ਟੁਕੜੇ

ਸਾਰੇ

 

ਬੁਢਾਪਾ ਟੈਸਟ

 

 

ਡੀ ਪੱਧਰ

ਬਰਨ-ਇਨ ਟੈਸਟਿੰਗ (ਟੈਸਟਿੰਗ ਤੋਂ ਪਹਿਲਾਂ ਅਤੇ ਬਾਅਦ) (ਅਨੈਕਸ C.4)

45 ਟੁਕੜੇ

45 ਟੁਕੜੇ ਜਾਂ ਸਾਰੇ (45 ਟੁਕੜਿਆਂ ਤੋਂ ਘੱਟ ਬੈਚ ਦੀ ਮਾਤਰਾ)

 

ਤੰਗੀ ਦੀ ਪੁਸ਼ਟੀ (ਘੱਟੋ ਘੱਟ ਲੀਕ ਦਰ ਅਤੇ ਵੱਧ ਤੋਂ ਵੱਧ ਲੀਕ ਦਰ)

 

 

ਈ ਪੱਧਰ

ਤੰਗੀ ਦੀ ਪੁਸ਼ਟੀ (ਘੱਟੋ-ਘੱਟ ਅਤੇ ਵੱਧ ਤੋਂ ਵੱਧ ਲੀਕੇਜ ਦਰਾਂ) (ਅਨੈਕਸ C.5)

ਸਾਰੇ

ਸਾਰੇ

 

ਧੁਨੀ ਸਕੈਨਿੰਗ ਟੈਸਟ

 

 

F ਪੱਧਰ

ਧੁਨੀ ਸਕੈਨਿੰਗ ਮਾਈਕ੍ਰੋਸਕੋਪ (ਅਨੈਕਸ C.6)

ਨਿਯਮ ਦੁਆਰਾ

ਨਿਯਮ ਦੁਆਰਾ

 

ਹੋਰ

 

 

ਜੀ ਪੱਧਰ

ਹੋਰ ਟੈਸਟ ਅਤੇ ਨਿਰੀਖਣ

ਨਿਯਮ ਦੁਆਰਾ

ਨਿਯਮ ਦੁਆਰਾ

 

ਨੋਟ:

1. 10 ਟੁਕੜਿਆਂ ਤੋਂ ਘੱਟ ਦੇ ਬੈਚਾਂ ਲਈ, ਕਾਗਨੀਜ਼ੈਂਟ ਇੰਜੀਨੀਅਰ, ਆਪਣੀ ਪੂਰੀ ਮਰਜ਼ੀ ਨਾਲ, ਟੈਸਟ ਦੀ ਗੁਣਵੱਤਾ ਅਤੇ ਗਾਹਕ ਦੀ ਸਹਿਮਤੀ ਦੇ ਅਧੀਨ, "ਨੁਕਸਾਨ ਭਰੇ" ਟੈਸਟ ਲਈ ਨਮੂਨੇ ਦੇ ਆਕਾਰ ਨੂੰ 1 ਟੁਕੜੇ ਤੱਕ ਘਟਾ ਸਕਦੇ ਹਨ।

2. ਰੀਟਾਈਪਿੰਗ ਅਤੇ ਰੀਫਰਬਿਸ਼ਿੰਗ ਟੈਸਟਿੰਗ ਲਈ ਨਮੂਨੇ "ਦਿੱਖ ਟੈਸਟਿੰਗ - ਵੇਰਵੇ ਜਾਂਚ" ਲਈ ਬੈਚ ਵਿੱਚੋਂ ਚੁਣੇ ਜਾ ਸਕਦੇ ਹਨ।

3. ਲੀਡ ਟੈਸਟ ਦੇ ਨਮੂਨੇ "ਦਿੱਖ ਟੈਸਟ - ਵੇਰਵੇ ਟੈਸਟ" ਲਈ ਬੈਚ ਵਿੱਚੋਂ ਚੁਣੇ ਜਾ ਸਕਦੇ ਹਨ।

4. ਓਪਨ ਕਵਰ ਟੈਸਟ ਦੇ ਨਮੂਨੇ "ਰੀਟਾਈਪਿੰਗ ਅਤੇ ਰੀਫਰਬਿਸ਼ਿੰਗ ਟੈਸਟ" ਵਿੱਚੋਂ ਲੰਘ ਰਹੇ ਬੈਚ ਵਿੱਚੋਂ ਚੁਣੇ ਜਾ ਸਕਦੇ ਹਨ।